日本三丰(Mitutoyo) 是全球精密测量与工业光学领域的标杆品牌,其工业显微物镜凭借超长工作距离、超高分辨率、平场复消色差、宽光谱适配等核心优势,成为半导体、面板、3C、精密测量、AOI 外观检测的行业标准配置,广泛配套于图像测量仪、检测设备、显微观测系统中。
产品专为工业高精度视觉检测、精密测量、显微观测设计,覆盖明场、暗场、同轴、偏振、红外、紫外等全场景,提供从1×~100×完整倍率体系,是高端工业视觉与精密量测领域的优选光学物镜。
工业高倍显微物镜
工业视觉最通用、精度最高
| 倍率 | NA | 工作距离 WD (mm) | 分辨率 (μm) | 适用 |
|---|---|---|---|---|
| 5× | 0.14 | 36.5 | 2.0 | 通用检测 |
| 10× | 0.28 | 20.0 | 1.0 | 高精度测量 |
| 20× | 0.42 | 10.0 | 0.5 | 晶圆 / 芯片 |
| 50× | 0.55 | 13.0 | 0.48 | 微细缺陷 |
| 100× | 0.70 | 6.0 | 0.24 | 纳米级观测 |
适合有高度差、台阶、深孔工件
| 倍率 | NA | WD(mm) | 特点 |
|---|---|---|---|
| 5× | 0.14 | 40.0 | 超长 WD |
| 10× | 0.21 | 30.5 | 超长 WD |
| 20× | 0.28 | 30.5 | 工业优选 |
适合划痕、脏污、玻璃、透明体检测
| 倍率 | NA | WD(mm) |
|---|---|---|
| 2× | 0.055 | 34.0 |
| 5× | 0.14 | 36.5 |
| 10× | 0.28 | 20.0 |
| 20× | 0.42 | 10.0 |
| 50× | 0.55 | 13.0 |
专门用于透过 3.5mm 厚玻璃观测内部
| 倍率 | NA | WD(mm) | 适用 |
|---|---|---|---|
| 20× | 0.28 | 29.4 | 玻璃下测量 |
| 50× | 0.42 | 12.0 | 玻璃下缺陷 |
| 倍率 | NA | WD(mm) | 波段 |
|---|---|---|---|
| 10× | 0.28 | 20.0 | 450–1800nm |
| 20× | 0.45 | 17.4 | 780nm 高透 |
| 50× | 0.55 | 13.0 | NIR 全覆盖 |
| 倍率 | NA | WD(mm) |
|---|---|---|
| 5× | 0.13 | 61.0 |
| 10× | 0.21 | 51.0 |
| 20× | 0.42 | 20.0 |
| 50× | 0.65 | 8.0 |

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